扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种调查手段。那么扫描电镜与透射电镜有什么区别？
1、布局差异：首要表现在样品在电子束光路中的位置差别。透射电镜的样品在电子束中心，电子源在样品上方发射电子，颠末聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，末了投影在荧光屏幕上;扫描电镜的样品在电子束结尾，电子源在样品上方发射的电子束，颠末几级电磁透镜缩小，达到样品。固然后续的信号探侧处置惩罚体系的布局也会差别，但从根基物理道理上讲没什么实质性不同。
2、根基事情道理：透射电镜：电子束在穿过样品时，会和样品中的原子产生散射，样品上某一点同时穿过的电子偏向是差别，如许品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后从头汇聚，形成该点一个放大的实像，这个和凸透镜成像道理沟通。这里边有个反差形成机制理论比力深就不讲，但可以这么想象，假如样品内部是绝对匀称的物质，没有晶界，没有原子晶格布局，那么放大的图像也不会有任何反差，事实上这种物质不存在，以是才会有这种仪器存在的来由。
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